[发明专利]用于对工件进行几何测量的装置和方法有效
申请号: | 200980103132.4 | 申请日: | 2009-01-23 |
公开(公告)号: | CN101952685A | 公开(公告)日: | 2011-01-19 |
发明(设计)人: | 伊万·巴沙尔 | 申请(专利权)人: | 马波斯有限公司 |
主分类号: | G01B13/02 | 分类号: | G01B13/02 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 车文;樊卫民 |
地址: | 德国魏*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于对工件进行几何测量的装置,包括具有流动通道的壳体,在流动通道内布置用于以测量流体通流的基准喷嘴,该装置包括用于在基准喷嘴上游测量第一测量流体压力的压力测量装置和用于在基准喷嘴下游测量第二测量流体压力的第二压力测量装置,为了对该装置通过如下方式进行改进,即,使该装置能够特别精确地进行几何测量,而提出:该装置包括用于测量处于基准喷嘴上的测量流体压差的压差测量装置。 | ||
搜索关键词: | 用于 工件 进行 几何 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
用于对工件(118)进行几何测量的装置(10、210),包括具有流动通道(36)的壳体(12),在所述流动通道(36)内布置有用于以测量流体通流的基准喷嘴(60),所述装置(10、210)包括用于在所述基准喷嘴(60)上游测量第一测量流体压力的压力测量装置(76)和用于在所述基准喷嘴(60)下游测量第二测量流体压力的第二压力测量装置(82),其特征在于用于测量处于所述基准喷嘴(60)上的测量流体压差的压差测量装置(88)。
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