[发明专利]存储设备测试有效

专利信息
申请号: 200980104008.X 申请日: 2009-04-17
公开(公告)号: CN102016611A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 爱德华·加西亚;布莱恩·S·梅洛;伊夫根尼·波利亚科夫;沃尔特·瓦伊;埃里克·L·特吕本巴赫 申请(专利权)人: 泰拉丁公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G11B20/18;G02B27/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 谷惠敏;穆德骏
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种存储设备测试系统(100),包括至少一个机器人臂(200),该至少一个机器人臂(200)限定大体上垂直于地板表面(10)的第一轴线(205)。所述机器人臂能够操作以绕第一轴线旋转过预定弧度并且从该第一轴线沿径向延伸。多个机架(300)布置在机器人臂周围以便由机器人臂服务。每个机架容纳多个测试槽(310),该多个测试槽各被构造成接纳存储设备运送器(550),该存储设备运送器(550)被构造成携载用于测试的存储设备(500)。
搜索关键词: 存储 设备 测试
【主权项】:
一种存储设备测试系统(100),包括:至少一个机器人臂(200),所述至少一个机器人臂(200)限定大体上垂直于地板表面(10)的第一轴线(205),所述机器人臂(200)能够操作以绕所述第一轴线(205)旋转过预定弧度并从所述第一轴线(205)沿径向延伸;多个机架(300),所述多个机架(300)布置在所述机器人臂(200)周围以便由所述机器人臂(200)提供服务;和多个测试槽(310),所述多个测试槽(310)由每个机架(300)容纳,每个测试槽(310)被构造成接纳存储设备运送器(550),所述存储设备运送器(550)被构造成携载用于测试的存储设备(500)。
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