[发明专利]荧光检测装置和荧光检测方法无效

专利信息
申请号: 200980104324.7 申请日: 2009-02-04
公开(公告)号: CN101939633A 公开(公告)日: 2011-01-05
发明(设计)人: 林弘能;中田成幸 申请(专利权)人: 三井造船株式会社
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14;G01N21/64
代理公司: 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人: 邬玥;葛强
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种荧光检测装置和荧光检测方法,其中,接收照射激光后测量对象物所发出的被散射的前向散射光,通知测量对象物通过测量点的情况,且生成用来确定发生聚焦的前向散射光的聚焦位置的检测信号。另一方面,通过聚光透镜接收测量对象物的荧光并输出受光信号。根据所输出的受光信号和生成的检测信号输出荧光强度值。根据所生成的检测信号确定聚焦位置并利用对应于该特定位置的校正系数对受光信号进行校正。
搜索关键词: 荧光 检测 装置 方法
【主权项】:
一种荧光检测装置,该装置朝向经过流路的测量对象物照射激光并对此时发出的荧光进行测量,其特征在于,所述荧光检测装置包括:激光光源部,朝向经过流路中的测量点的测量对象物照射激光;第一受光部,包括光学系统和多个检测器,其中,所述光学系统对发射自测量对象物的激光的前向散射光进行聚焦,所述多个检测器并列配置在与所述激光的光轴方向和所述流路中的测量对象物的流动方向呈正交的方向上,以便通过接收发生聚焦的所述前向散射光,通知测量对象物通过测量点的时间的同时对发生聚焦的前向散射光的聚焦位置进行检测;第二受光部,通过聚光透镜接收测量对象物被激光照射后所发出的荧光并输出该受光信号;处理部,将所述第一受光部输出的检测信号作为触发信号,并根据输出自所述第二受光部的所述受光信号和所述检测信号开始进行数据处理并输出荧光强度的输出值;其中,所述处理部根据输出自所述第一受光部的检测信号确定前向散射光的聚焦位置,并根据该聚焦位置求出用来对输出自所述第二受光部的受光信号进行校正的校正系数,且利用所述校正系数对所述受光信号进行校正。
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