[发明专利]叶片根部涂层的测试方法有效

专利信息
申请号: 200980106375.3 申请日: 2009-02-25
公开(公告)号: CN101960285A 公开(公告)日: 2011-01-26
发明(设计)人: 艾伦·拜索特;劳伦特·都彭;安妮-克莱尔·毕廖内 申请(专利权)人: 斯奈克玛
主分类号: G01N3/56 分类号: G01N3/56;F01D5/28
代理公司: 中国商标专利事务所有限公司 11234 代理人: 万学堂
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 一种用于测试叶片根部的涂层(36)的方法,包括如下步骤:提供所谓的盘测试件(22)和另一所谓的叶片测试件(32),所述盘测试件包括至少一个支撑表面,所述叶片测试件包括至少一个涂覆有待测的所述涂层的支撑表面(34),所述叶片测试件包括用于与盘测试件的任一侧接合的两个对半测试件(32),使与所述盘测试件(22)接合的所述叶片测试件(32)经受张紧循环,在此期间所述测试件在张紧方向(A)上彼此经历张紧应力,所述张紧应力经由使所述叶片测试件和所述盘测试件接触的支撑表面来传递。该方法用于非常可靠地再现涂层的性能和老化并因此能准确评价涂层的质量。
搜索关键词: 叶片 根部 涂层 测试 方法
【主权项】:
一种用于测试叶片根部的涂层(36)的方法,包括如下步骤:提供所谓的盘测试件(22)和另一所谓的叶片测试件(32),所述盘测试件包括至少一个支撑表面,所述叶片测试件包括至少一个涂覆有待测的所述涂层的支撑表面(34),所述叶片测试件包括用于与所述盘测试件的任一侧接合的两个对半测试件(32),使与所述盘测试件(22)接合的所述叶片测试件(32)经受张紧循环,在此期间所述测试件在张紧方向(A)上彼此经历张紧应力,所述张紧应力经由使所述叶片测试件和所述盘测试件接触的支撑表面来传递;根据预定的评价标准对所述涂层进行评价。
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