[发明专利]用于校准磁感应断层成像系统的方法和设备

摘要

本发明涉及一种用于校准成像系统的偏移的方法和设备。本发明的核心思想在于：将参考物体置于成像系统的测量室中；在不同时间点测量与参考物体关联的信号；根据参数的变化计算评价函数，所述参数表示参考物体的电磁特性；导出使得评价函数的值最小的一组最优偏移数据，以便在随后的图像重构中补偿系统的偏移。在一个实施例中，本发明使用了包括不传导外壳和腔体的参考物体，传导流体可以填充到该参考物体中，也可从该参考物体中清空，这样，可以减少监测期间由参考物体引起的成像干扰。

主权项

一种校准成像系统的方法，该方法包括：‑第一测量步骤(204)，其测量与置于该成像系统的测量室(100)中的参考物体(102)关联的磁感应信号，以便获得第一组测量数据；‑步骤(206)，其根据所述第一组测量数据和一组偏移数据计算第一组参数，所述第一组参数表示所述参考物体(102)的电磁特性，所述偏移数据组是所述系统的偏移的初始估计；‑第二测量步骤(210)，其测量与置于所述测量室(100)中的所述参考物体(102)和感兴趣物体(101)关联的磁感应信号，以便获得第二组测量数据；‑步骤(212)，其根据所述第二组测量数据和所述偏移数据组计算第二组参数，所述第二组参数表示所述参考物体(102)和感兴趣物体(101)的电磁特性；‑步骤(216)，其根据测量室中所述参考物体(102)的形状和/或位置从所述第二组参数导出第三组参数，所述第三组参数表示所述参考物体的电磁特性；和‑步骤(218)，其从所述第一和第三组参数导出一组最优偏移数据，该最优偏移数据组是所述系统的偏移的估计；和‑步骤(220)，其用所述最优偏移数据组更新所述偏移数据组。