[发明专利]光屏障以及用于检测对象的方法有效
| 申请号： | 200980109064.2 | 申请日： | 2009-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN101971056A | 公开（公告）日： | 2011-02-09 |
| 发明（设计）人： | 海因茨·哈斯;沃伊切赫·吉杰维奇 | 申请（专利权）人： | 欧司朗光电半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01V8/10 | 分类号： | G01V8/10 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王萍;周涛 |
| 地址： | 德国雷*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种具有半导体器件(1)的光屏障以及一种用于检测对象的方法，半导体器件(1)具有：支载体(2)，检测电磁辐射的半导体芯片(4)，发射电磁辐射的半导体芯片(4)，以及方向选择性元件(5，8)，该方向选择性元件限制由进行检测的半导体芯片(4)能够接收的辐射和/或要由进行发射的半导体芯片(3)发射的辐射的角度范围，其中能够接收的辐射的主射束轴(V)相对于要发射的辐射的主射束轴(U)倾斜。 | ||
| 搜索关键词： | 屏障 以及 用于 检测 对象 方法 | ||
【主权项】：
一种具有半导体器件(1)的光屏障，其中半导体器件(1)具有：‑支承体(2)，‑施加在支承体(2)的上侧(21)并且检测电磁辐射的至少一个半导体芯片(4)，‑至少一个发射电磁辐射的半导体芯片(3)，所述半导体芯片(3)安置在支承体(2)的上侧(21)上，以及‑安置在支承体(2)的上侧(21)上的至少一个方向选择性元件(5，8)，该方向选择性元件限制由进行检测的半导体芯片(4)能够接收的辐射的角度范围和/或要由进行发射的半导体芯片(3)发射的辐射的角度范围，其中，能够接收的辐射的主射束轴(V)相对于要发射的辐射的主射束轴(U)倾斜。
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