[发明专利]记录条件或再生条件的确定方法、集成电路及光盘装置无效
| 申请号： | 200980111002.5 | 申请日： | 2009-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN102016989A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 桑原雅弥;薮野宽之;永田圣记;出合孝行 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/0045 | 分类号： | G11B7/0045;G11B7/004;G11B7/005;G11B7/125 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种记录条件或再生条件的确定方法。在记录再生装置中，对在多个记录层中的任一个的记录对象记录层进行用户数据的记录时的记录条件以及再生上述记录对象记录层的数据时的再生条件中的至少一者进行确定的处理，其中，上述记录再生装置通过对光记录介质照射激光来进行数据的记录及再生，上述光记录介质形成有上述多个记录层，并记录有表示上述多个记录层中的已记录区域的记录管理数据，上述多个记录层分别具有测试记录区域和用户数据区域；基于上述记录管理数据，取得每一记录层的上述测试记录区域的剩余容量；基于所取得的每一记录层的测试记录区域的剩余容量，将进行测试记录的记录层确定为测试记录层；对所确定的测试记录层的测试记录区域进行测试记录；基于进行了测试记录的区域的记录品质，对上述记录条件及上述再生条件中的至少一者进行确定。 | ||
| 搜索关键词： | 记录 条件 再生 确定 方法 集成电路 光盘 装置 | ||
【主权项】：
一种记录条件或再生条件的确定方法，用于在记录再生装置中，对在多个记录层中的任一个记录对象记录层记录用户数据时的记录条件以及再生上述记录对象记录层的数据时的再生条件中的至少一者进行确定，其中，上述记录再生装置通过对光记录介质照射激光来进行数据的记录及再生，上述光记录介质形成有分别具有测试记录区域和用户数据区域的上述多个记录层，并且上述光记录介质记录有表示上述多个记录层中的已记录区域的记录管理数据，该记录条件或再生条件的确定方法包括：剩余容量取得步骤，基于上述记录管理数据，取得每一记录层的上述测试记录区域的剩余容量；测试记录层确定步骤，基于在上述剩余容量取得步骤中所取得的每一记录层的测试记录区域的剩余容量，将进行测试记录的记录层确定为测试记录层；测试记录步骤，对上述测试记录层确定步骤中所确定的测试记录层的测试记录区域进行测试记录；及条件确定步骤，基于上述测试记录步骤中进行了测试记录的区域的记录品质，对上述记录条件及上述再生条件中的至少一者进行确定。
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