[发明专利]光电射线检测器和用于制造多个检测器元件的方法有效
申请号: | 200980111247.8 | 申请日: | 2009-01-23 |
公开(公告)号: | CN101981696A | 公开(公告)日: | 2011-02-23 |
发明(设计)人: | R·维尔特;R·布滕戴希 | 申请(专利权)人: | 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张涛;卢江 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 提出一种光电射线检测器(100),具有多个用于产生信号的检测器元件(1,2,3),其中这些检测器元件分别具有光谱灵敏度分布,一个检测器元件(1)具有基本检测器元件,该基本检测器元件(1)的光谱灵敏度分布具有下极限波长,其它检测器元件(2,3)具有包含至少一个滤波层(14,15)的滤波层结构(13),该其它检测器元件(2,3)的灵敏度分布在最大波长时具有最大值,以及该滤波层结构被构成为,使得该滤波层结构吸收波长小于该最大波长的射线和波长大于该下极限波长的射线。 | ||
搜索关键词: | 光电 射线 检测器 用于 制造 元件 方法 | ||
【主权项】:
一种光电射线检测器,具有多个用于产生信号的检测器元件,其中这些检测器元件分别具有光谱灵敏度分布,一个检测器元件具有基本检测器元件,该基本检测器元件的光谱灵敏度分布具有下极限波长,其它检测器元件具有包含至少一个滤波层的滤波层结构,该其它检测器元件的灵敏度分布在最大波长时具有最大值,以及该滤波层结构被构成为,使得该滤波层结构吸收波长小于该最大波长的射线和波长大于该下极限波长的射线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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