[发明专利]用于提高利用电容式传感器进行的测量的精度的装置和方法有效
申请号: | 200980113815.8 | 申请日: | 2009-04-27 |
公开(公告)号: | CN102007424A | 公开(公告)日: | 2011-04-06 |
发明(设计)人: | 贾斯汀·杜安 | 申请(专利权)人: | 西港能源公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;B65D90/48;F17C13/02;G01F23/26 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 李冬梅;郑霞 |
地址: | 加拿大英*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
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摘要: | 公开了一种用于提高利用电容式传感器进行的测量的精度的装置和方法。该装置除了传感器以外还包括测量电路和微处理器。传感器或具有已知且固定的电容的校准电容器中的一个可通过开关连接于测量电路,该开关的位置由微处理器控制。微处理器将测量信号发送至测量电路并且从其接收数据。根据所公开的方法,测量电路被编程以确定所测量的校准数据与已知电容之间的误差并且利用该误差来计算校正值,该校正值被应用于所测量的传感器数据以计算被校正的传感器测量。 | ||
搜索关键词: | 用于 提高 利用 电容 传感器 进行 测量 精度 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种装置,包括:a.电容式传感器,其用于测量参数;b.测量电路,其包括:i)校准电容器,其具有已知且固定的电容;ii)开关,其用于选择性地将所述测量电路连接于所述电容式传感器或所述校准电容器中的一个;c.微处理器,其被连接于所述测量电路以给所述测量电路发送命令或者从所述测量电路接收数据,其中所述微处理器被编程以:i)控制所述开关的位置;ii)确定被测量的数据与预定数据之间的误差,当所述测量电路被连接于所述校准电容器时由所述测量电路采集所述被测量的数据,所述预定数据与所述已知电容相关联;iii)基于所述误差和当所述测量电路被连接于所述电容式传感器时由所述测量电路采集的被测量的数据来计算校正值;以及iv)通过将所述校正值应用于当所述测量电路被连接于所述电容式传感器时由所述测量电路采集的被测量的数据来确定经校正的数据测量。
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