[发明专利]通过对扫描诊断结果的统计学分析确定成品率突发异常的原因无效
| 申请号： | 200980113968.2 | 申请日： | 2009-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN102027475A | 公开（公告）日： | 2011-04-20 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·本维尔;马尼什·沙尔玛 | 申请（专利权）人： | 明导公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 郑小粤 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 当今生产过程中的成品率突发异常需要昂贵、冗长且繁重的物理失效分析过程方可确定其根本原因。本申请中公开了通过对收集自生产测试环境的失效数据的分析，高效率地确定生产成品率突发异常根本原因的技术。具体而言，将以新的方式使用统计假设检验来分析逻辑诊断数据以及关于设计布局的物理特性的信息，并可靠地确定成品率突发异常的原因。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 扫描 诊断 结果 统计学 分析 确定 成品率 突发 异常 原因 | ||
【主权项】：
一种用于对被确定为成品率突发异常的电路器件测试失效进行分析的方法，所述方法包括：接收信息，其中所述信息用于指示容易在制造中变形的电路器件的特征，以及指示导致所观察到的测试失效的可能失效位置的信息；生成假设，所述假设是假设特定缺陷机理是成品率突发异常的原因；对接收到的所述信息进行统计学分析，以计算用于拒绝所述假设的判定值；基于所述判定值确定所述成品率突发异常的原因；和报告成品率突发异常的原因。
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