[发明专利]可编程数字逻辑单元的本地校准有效
申请号: | 200980115675.8 | 申请日: | 2009-05-01 |
公开(公告)号: | CN102017008A | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | A·巴特拉;S·林加姆;K·W·S·李;C·D·比特利斯顿;E·阿米拉斯库拉 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/34 | 分类号: | G11C16/34;G11C16/10;G11C11/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种集成电路(IC)(420)包括自校准的可编程数字逻辑电路。该IC包括至少一个可编程数字逻辑单元(431A-431E),其中该可编程数字逻辑单元提供(i)多个不同的可访问的电路配置或(ii)电压水平控制器。提供自校准系统(435),其包括至少一个参考装置(430)、测量装置(441),所述测量装置用于利用该参考装置测量可以影响该可编程数字逻辑单元(421A-431E)的处理速度的至少一个电气性能参数或可以影响所述电气性能参数的至少一个参数,以获得校准数据。处理装置(442)映射所述校准数据或从其导出的参数,以产生控制信号(446),该控制信号可操作来从多个不同的可访问的电路配置或电压水平输出中进行选择,以改变所述可编程数字逻辑单元的处理速度。 | ||
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【主权项】:
一种用于校准包括至少一个可编程数字逻辑单元的集成电路的方法,所述可编程数字逻辑单元提供多个不同的可访问的电路配置或包括电压水平控制器,所述方法包括:利用参考装置测量可以影响所述可编程数字逻辑单元的处理速度的至少一个电气性能参数或可以影响所述电气性能参数的至少一个参数,以此获得校准数据;以及基于所述校准数据对所述可编程数字逻辑单元进行编程,以选择所述多个不同的电路配置的第一个或由所述电压水平控制器输出的电压水平,其中所述编程改变所述可编程数字逻辑单元的所述处理速度。
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