[发明专利]闪烁器、闪烁器的制造方法以及放射线检测器有效

专利信息
申请号: 200980116517.4 申请日: 2009-03-13
公开(公告)号: CN102017010A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 森谷隆广;山下贵司;挂川诚 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G21K4/00 分类号: G21K4/00;G01T1/20;G01T1/202
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的放射线检测器,其特征在于:具备包含多个改质区域(21)的闪烁器(2A)以及与闪烁器(2A)的表面进行光学结合的多个光检测器或者位置检测型光检测器。多个改质区域(21)通过将激光照射至成为闪烁器(2A)的结晶块的内部而形成,在闪烁器(2A)的内部具有与周围不同的折射率且以三维进行散布。
搜索关键词: 闪烁 制造 方法 以及 放射线 检测器
【主权项】:
一种闪烁器的制造方法,其特征在于:所述闪烁器被用于放射线检测器,所述放射线检测器具备所述闪烁器以及与该闪烁器的表面光学结合的多个光检测器或者位置检测型光检测器;所述闪烁器的制造方法包括形成多个改质区域的工序,通过将激光照射至成为所述闪烁器的结晶块的内部,从而在所述结晶块的内部形成具有与周围不同的折射率且三维散布的多个改质区域。
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