[发明专利]用于测量试样长度变化的接触式位移传感器及其使用方法无效
| 申请号： | 200980122867.1 | 申请日： | 2009-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN102066870A | 公开（公告）日： | 2011-05-18 |
| 发明（设计）人： | N·达莱姆;J·库恩克 | 申请（专利权）人： | 拜尔材料科学股份公司 |
| 主分类号： | G01B5/30 | 分类号： | G01B5/30 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李永波;梁冰 |
| 地址： | 德国莱*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种在机械地测量试样的由于伸长而发生的长度变化时所使用的接触式位移传感器。本发明还涉及利用这种接触式位移传感器来测量试样的长度变化的方法、利用这种接触式位移传感器来测量试样的长度变化的系统以及这种接触式位移传感器的用于测量试样长度变化的用途。该接触式位移传感器包括与试样接触的主体。根据本发明，主体可转动地被支撑并经过设置，从而在试样拉断时该试样使得主体旋转。试样在拉断时使得主体旋转，由此仅有少量能量传递到接触式位移传感器上，该接触式位移传感器因而不会过载或受损。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 试样 长度 变化 接触 位移 传感器 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
一种在机械地测量试样（16）的由于伸长而发生的长度变化时所使用的接触式位移传感器，包括与旋转对称的主体（14）连接的接触指（12），其特征在于：主体（14）可转动地被支撑；主体（14）的转动轴线（18）也是主体（14）的几何旋转轴线（20）；主体（14）具有围绕其旋转轴线（20）形成的圆周面（24），试样（16）可以与该圆周面接触。
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