[发明专利]光学测量构件以及用于执行反射测量的方法

摘要

本发明是一种用于执行反射测量的光学测量构件(10)，包括：光源(11)，适合于照射待测表面；测量传感器(12a、12b)，用于检测由待测表面所反射的光；以及，光阻光学元件(13)，其将测量传感器(12a、12b)与光源(11)的直射光分隔开，且具有内部空间，该内部空间包括从光源(11)延伸至待测表面的直的中心线光管(14)。光阻光学元件(13)的内部空间包括背阴空间(19)，该背阴空间从光管(14)的中心线延伸得比光管(14)远，且其中布置有监测传感器(15)，该监测传感器(15)受光源(11)的直射光的一部分照射，且使得能够对光源(11)的光辐射的变化进行补偿。另一方面，本发明是一种通过光学测量构件(10)执行反射测量的方法。

主权项

一种光学测量构件(10)，用于执行反射测量，所述构件包括：光源(11)，适合于照射待测表面；测量传感器(12a、12b)，用于检测由所述待测表面所反射的光；以及，光阻光学元件(13)，其将所述测量传感器(12a、12b)与所述光源(11)的直射光分隔开，并且具有内部空间，该内部空间包括从所述光源(11)延伸至所述待测表面的直的中心线光管(14)，所述光学测量构件的特征在于，所述光阻光学元件(13)的内部空间包括背阴空间(19)，该背阴空间从所述光管(14)的中心线延伸得比所述光管(14)远，该背阴空间中布置有监测传感器(15)，所述监测传感器(15)受所述光源(11)的直射光的一部分照射，并且使得能够对所述光源(11)的光辐射的变化进行补偿。