[发明专利]存储装置测试系统中的存储装置传送无效

专利信息
申请号: 200980122987.1 申请日: 2009-04-16
公开(公告)号: CN102066958A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 伊夫根尼·波利亚科夫;爱德华·加西亚;埃里克·L·特吕本巴赫;布莱恩·S·梅洛;布莱恩·J·惠特克 申请(专利权)人: 泰拉丁公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R31/28
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 谷惠敏;穆德骏
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种在存储装置测试系统(100)中传送存储装置(500)的方法,包括:致动自动输送器(200),以将设置用于测试的多个存储装置取回;以及致动自动输送器,以将每个取回的存储装置传送到存储装置测试系统的相应测试槽(310),并且将每个存储装置插入到相应测试槽中。
搜索关键词: 存储 装置 测试 系统 中的 传送
【主权项】:
一种在存储装置测试系统(100)中传送存储装置(500)的方法,其特征在于,所述方法包括:致动自动输送器(200),以将多个设置用于测试的存储装置(500)取回;以及致动所述自动输送器(200),以将每个取回的存储装置(500)传送到所述存储装置测试系统(100)的相应测试槽(310)并且将每个所述存储装置(500)插入到相应测试槽(310)中。
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