[发明专利]向存储装置测试系统批量输送存储装置有效

专利信息
申请号: 200980123143.9 申请日: 2009-04-16
公开(公告)号: CN102265168A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 斯科特·诺贝尔;爱德华·加西亚;伊夫根尼·波利亚科夫;埃里克·L·特吕本巴赫;布莱恩·S·梅洛 申请(专利权)人: 泰拉丁公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G11B20/18;G02B5/04
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 谷惠敏;穆德骏
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种将存储装置(500)提供给存储装置测试系统(100)的方法,包括将载有多个存储装置(500)的存储装置搬运箱(600)置于设置位置,其中,存储装置测试系统的自动输送器(200)可以到达设置位置。该方法包括:致动自动输送器,以将存储装置之一从存储装置搬运箱中取回;以及致动自动输送器,以将取回的存储装置传送到存储装置测试系统的测试槽(310)并且将存储装置插入到测试槽中。
搜索关键词: 存储 装置 测试 系统 批量 输送
【主权项】:
一种将存储装置(500)提供给存储装置测试系统(100)的方法,所述方法包括:将载有多个存储装置(500)的存储装置搬运箱(600)安置于设置位置,所述存储设备测试系统(100)的自动输送器(200)能够到达所述设置位置;致动所述自动输送器(200),以将所述存储装置(500)之一从所述存储装置搬运箱(600)中取回;以及致动所述自动输送器(200),以将取回的存储装置(500)传送到所述存储装置测试系统(100)的测试槽(310)并且将所述存储装置(500)插入到所述测试槽(310)中。
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