[发明专利]高K电介质膜及用铈基β-二酮合物前体制备的方法有效

专利信息
申请号: 200980123702.6 申请日: 2009-05-22
公开(公告)号: CN102137952A 公开(公告)日: 2011-07-27
发明(设计)人: P·R·查尔克;P·N·黑斯 申请(专利权)人: 西格玛-奥吉奇公司
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/40;H01L21/314
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李帆
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提供了用金属源前体和根据式I:Ce(L)x(式I)铈基β-二酮合物前体通过化学相沉积方法形成和稳定高κ电介质膜的方法,其中:L是β-二酮基;并且x是3或4。还提供了用根据式I的铈前体改善半导体器件高κ栅性能的方法。还提供了包含氧化铪、氧化钛或其混合物、并且还含有使电容率维持或增加的铈原子的数量的高κ电介质膜。
搜索关键词: 电介质 用铈基 二酮合物前 体制 方法
【主权项】:
通过化学相沉积方法形成高κ电介质膜的方法,该方法包含将至少一种金属源前体和至少一种铈前体运送到基材,其中该至少一种铈前体在结构上对应于式I:Ce(L)x(式I)其中:L是β‑二酮基;并且x是3或4。
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