[发明专利]溅射装置及溅射方法无效

专利信息
申请号: 200980123959.1 申请日: 2009-06-23
公开(公告)号: CN102066605A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 森本直树;近藤智保;镰田恒吉;中村久三 申请(专利权)人: 株式会社爱发科
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;H01L21/285
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红;常春
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种建设装置,该装置结构简单,成本低廉,在该溅射装置中,可以对具有大高径比的微孔上以良好的覆盖特性成膜。该溅射装置具有设置在真空室2内的一靶3和衬底W,该靶与该衬底相对设置;在所述靶的溅射面3a前方产生隧道状磁场的磁铁组件4、将溅射气体导入于所述真空室内的气体导入装置7,以及对所述靶施加负的电位的溅射电源5。还具备有用以产生一垂直磁场的磁场产生装置11u,11d,该磁场的磁力线M垂直的通过所述靶的溅射面及整个衬底的表面,且磁力线之间有规定的间距。
搜索关键词: 溅射 装置 方法
【主权项】:
一种溅射装置,用于对设置于真空室内的衬底的表面成膜,该装置包括:与所述衬底相对设置的靶,在所述靶的溅射面前方产生磁场的磁铁组件,将溅射气体导入所述真空室内的气体导入装置,以及对所述靶施加负电位的溅射电源,其特征在于:还具有用以产生一垂直磁场的磁场产生装置,该磁场的磁力线垂直通过所述靶的溅射面及整个衬底的表面,且磁力线之间有规定的间距。
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