[发明专利]用于光学确定测量介质的测量变量的方法有效
| 申请号： | 200980127936.8 | 申请日： | 2009-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN102099670A | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·汉克 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N31/22;G01N21/80 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 邹璐;樊卫民 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 在一种用于确定测量介质的测量变量的方法中，其中，测量介质与指示剂或者混合指示剂进行接触，该指示剂或混合指示剂的吸收光谱具有基本上不重叠的第一和第二波长范围，激发第一光源(6)以发射具有第一波长范围中的波长的第一光信号并且激发第二光源(7)以发射具有第二波长范围中的波长的第二光信号，其中，第一周期信号被调制到第一光信号的强度上以及第二周期信号被调制到第二光信号的强度上，其中，至少一部分第一光信号和一部分第二光信号作为第一和第二测量光信号各自沿测量路径传播并在该测量路径上通过与指示剂或者混合指示剂的光学相互作用转换成经转换的测量光信号，以及其中检测经转换的第一和第二测量光信号的总强度，其中，第一周期信号相对于第二周期信号具有第一相位差，以及测定经转换的第一和第二测量光信号总强度相对于第一或者第二周期信号的第二相位差，并通过使用第二相位差确定测量变量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 确定 测量 介质 变量 方法 | ||
【主权项】：
用于确定测量介质的测量变量的方法，其中，测量介质与指示剂或者混合指示剂接触，该指示剂或混合指示剂的吸收光谱具有基本上不重叠的第一和第二波长范围，其中，激发第一光源(6)以发射具有第一波长范围中的波长的第一光信号以及激发第二光源(7)以发射具有第二波长范围中的波长的第二光信号，其中，利用第一周期信号调制第一光信号的强度以及利用第二周期信号调制第二光信号的强度，其中，至少一部分第一光信号和至少一部分第二光信号作为第一和第二测量光信号各自沿测量路径传播并在该测量路径上通过与指示剂或者混合指示剂的光学相互作用而得到转换，以及其中检测经转换的第一和第二测量光信号的总强度，其特征在于，第一周期信号相对于第二周期信号具有第一相位差，以及测定经转换的第一和第二测量光信号的总强度相对于第一或者第二周期信号的第二相位差，并通过使用所述第二相位差确定测量变量。
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