[发明专利]针对无电源的应用的时间测量设备无效
申请号: | 200980128326.X | 申请日: | 2009-07-22 |
公开(公告)号: | CN102099753A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 彼得·杨·什利克维尔;约瑟夫·托马斯·马丁内斯·范贝克;帕维尔·穆夏尔 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | G04F13/00 | 分类号: | G04F13/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及一种时间测量设备,包括在单个基板或多个基板上的定时参考电路;在基板上或基板中的放射性辐射源;在基板上或基板中的放射性衰变事件计数器。基板上的控制电路被配置为使用定时参考来控制计数器的积分时间,从计数器接收计数信号,并使用计数信号、积分时间跨度的值、半衰期、以及在参考时间处所述至少一个放射性同位素的已知衰变速率,来计算瞬息时间与参考时间之间的时间差。 | ||
搜索关键词: | 针对 电源 应用 时间 测量 设备 | ||
【主权项】:
一种时间测量设备,包括:‑定时参考电路,被配置为产生具有参考频率的电参考信号,所述参考频率适合测量或控制分辨率为秒或更小的积分时间跨度;‑在基板上或集成到基板中的放射性辐射源,包括具有至少一个月的已知半衰期的至少一个放射性同位素;‑针对放射性辐射的检测器,所述检测器与放射性辐射源一起集成在相同的基板上或基板中,并被配置为提供检测器信号,所述检测器信号指示在积分时间跨度上检测到的放射性衰变事件的数目;‑控制电路,与定时参考电路和检测器相连,并被配置为:‑控制或测量积分时间跨度,以及‑使用检测器信号、积分时间跨度的值、半衰期、以及在参考时间处所述至少一个放射性同位素的已知衰变速率,来计算瞬息时间与参考时间之间的时间差。
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