[发明专利]用于针对生产工作流的芯片设计中的单元完整性、改变和起点的独立评估的方法和设备

摘要

所公开的技术涉及用于为制造而准备芯片设计的设计数据的粒度分析，以及涉及标识设计数据文件的各部分之间的相似性和差异性。具体地，所公开的技术涉及解析数据并且将其组织到规范化形式中，概括规范化形式并且将来自不同源(诸如设计和设计模板库)的设计数据的概要进行比较。将设计数据组织到规范化形式中通常会降低数据分析对于数据中对设计没有功能性影响的改变的敏感性。粒度分析的细节在用于表示设计方面的设计语言以及数据文件格式之间有所不同。针对各种设计语言，粒度分析可以包括通过以下各项来划分设计文件：头部/单元部分、注释的单独处理、功能上重要的/不重要的数据、空白/非空白以及设计数据单位内的层。感兴趣的相似性和差异性取决于粒度分析的目标。比较按照多种方式都是有用的。

主权项

一种评估电路设计数据之间的相似性和/或差异性的计算机实现的方法，所述设计数据驻留在存储于计算机存储器中的至少两个文件中，所述方法包括：使用计算机，标识驻留在第一文件和第二文件中的设计数据内的单元，其中所述单元对应于物理电路的设计的部分；解析所述单元内的所述设计数据的语法，并且将所述单元内的所述设计数据正则化为规范化形式，其中所述规范化形式降低了数据分析对特定单元内的设计数据的非功能性改变的敏感性；计算和存储所述规范化形式的至少所选择的设计数据的概要，针对每个单元产生至少一个概要；将所述第一文件中的所述单元的概要与所述第二文件中的所述单元的概要进行比较；以及总结对所述概要的所述比较的至少一些结果。