[发明专利]残渣剥离液组合物及使用其的半导体元件的洗涤方法有效
申请号: | 200980131013.X | 申请日: | 2009-07-07 |
公开(公告)号: | CN102138202A | 公开(公告)日: | 2011-07-27 |
发明(设计)人: | 镰田京子;田中圭一;松永裕嗣 | 申请(专利权)人: | 三菱瓦斯化学株式会社 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;H01L21/027 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供残渣剥离液组合物及使用其的半导体元件的洗涤方法,所述残渣剥离液组合物在具有由铝(Al)或铝合金构成的金属配线的半导体基板的制造工序中,可将为了形成导通孔而进行干蚀刻及灰化后残留的抗蚀剂残渣及来源于钛(Ti)的残渣在低温、短时间内完全除去,并且不会腐蚀层间绝缘材料、配线材料等部件。该残渣剥离液组合物是含有(A)氟化铵;(B)甲磺酸;(C)具有碳-碳三键的化合物;(D)水溶性有机溶剂;以及(E)水的残渣剥离液组合物,并且,该残渣剥离液组合物中的(A)、(C)、(D)及(E)的含量分别为0.005~2质量%、0.1~10质量%、60~75质量%及5~38质量%,且(B)相对于(A)为0.9~1.5倍量(摩尔比)。 | ||
搜索关键词: | 残渣 剥离 组合 使用 半导体 元件 洗涤 方法 | ||
【主权项】:
一种残渣剥离液组合物,所述残渣剥离液组合物含有:(A)氟化铵;(B)甲磺酸;(C)具有碳‑碳三键的化合物,其为选自3‑甲基‑1‑戊炔‑3‑醇、1‑乙炔基‑1‑环己醇、2‑丙炔‑1‑醇、2‑丁炔‑1,4‑二醇、4‑乙基‑1‑辛炔‑3‑醇、3‑甲基‑1‑丁炔‑3‑醇、1‑辛炔‑3‑醇、苯乙炔、3,3‑二甲基‑1‑丁炔、2‑丁炔‑1‑醇、3,5‑二甲基‑1‑己炔‑3‑醇及3‑己炔‑2,5‑二醇中的至少一种;(D)水溶性有机溶剂,其为选自多元醇类、二醇醚类及酰胺类中的至少一种;以及(E)水,该残渣剥离液组合物中的(A)、(C)、(D)及(E)的含量分别为0.005~2质量%、0.1~10质量%、60~75质量%及5~38质量%,且包含相对于(A)为0.9~1.5倍量(摩尔比)的(B)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱瓦斯化学株式会社,未经三菱瓦斯化学株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200980131013.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种超长重型牵引车的紧急停车装置
- 下一篇:一种用于塑料圆织机的钢片综
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造