[发明专利]用于探测低和高X射线通量的方法和装置无效
| 申请号： | 200980131250.6 | 申请日： | 2009-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN102119342A | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | R·卡尔米;A·利夫内 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 提供了一种在CT成像中使用的用于探测低和高X射线密度的方法和装置。两个光电探测器被耦合到同一个换能器上，这两个光电探测器中的一个具有相对低的动态范围，而另一个具有相对高的动态范围。第一个光电探测器例如可以是被动猝灭的SiPM。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 射线 通量 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种辐射(20)探测器单元(100，300)，其包括：换能器(10)，其将所述辐射(20)转换成次级光子(22)；第一光电探测器(102，302)，其光学耦合到所述换能器(10)，具有有最小辐射通量的第一探测动态范围，并且进行操作以将所述次级光子(22)中的至少一部分转换成第一电子信号；第二光电探测器(104，304)，其光学耦合到所述换能器(10)，具有有最小辐射通量的第二探测动态范围，并且进行操作以将所述次级光子(22)中的至少一部分转换成第二电子信号；其中，所述第一动态范围的最小辐射通量小于所述第二动态范围的最小辐射通量。
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