[发明专利]用于无掩模光刻的聚焦斑点优化有效

专利信息
申请号: 200980134104.9 申请日: 2009-07-21
公开(公告)号: CN102132215A 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: P·F·米开罗斯基 申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 钱慰民
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 在投影系统的中继器(30)中优化诸如无掩模光刻投影系统的活动斑点阵列投影系统(18)的聚焦斑点(32)。频率调制器(70)位于中继器光瞳(68)附近,以重构聚焦斑点(32)并同时将聚焦斑点(32)成像在光敏基板(36)。
搜索关键词: 用于 无掩模 光刻 聚焦 斑点 优化
【主权项】:
一种活动斑点阵列投影系统,包括:发光器,用于照射图案发生器的可寻址元件;成像器,用于将图案发生器的可寻址元件成像在相应聚焦元件上,所述相应聚焦元件形成可由图案发生器控制的图案中的聚焦斑点;中继器,用于将聚焦斑点的图案的图像中继到光敏基板上,每个聚焦斑点包含一范围的空间频率;以及在中继器光瞳附近的频率调制器,用于统一调制聚焦斑点的选定空间频率。
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