[发明专利]采用强度调制激光的荧光检测装置和荧光检测方法

摘要

一种荧光检测装置和荧光检测方法，在所述荧光检测装置中，朝向测量对象物照射进行强度调制的激光，由此获得测量对象物所发出的荧光的荧光信号。此时，生成与调制信号不同的、与调制信号的频率相同或大致相同且与调制信号的相位同步的参照信号。在荧光检测装置中，利用参照信号与所获得的荧光信号进行混合处理后计算出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间。本发明的荧光检测装置中，根据通过混合处理而得到的混合信号计算出的荧光弛豫时间，与以往的方式相比精度高。

主权项

一种荧光检测装置，朝向测量对象照射激光以接收该测量对象物所发出的荧光，并由接收所述荧光而得到的荧光信号求出荧光弛豫时间，所述荧光检测装置包括：激光光源部，发射出强度被调制的激光用以照射测量对象物；受光部，输出测量对象物被强度调制的激光照射后所发出的荧光的荧光信号；信号生成部，为了对从所述激光光源部射出的激光进行强度调制而生成具有规定频率的调制信号，而且，还生成与所述调制信号不同的、具有与所述调制信号的频率相同或大致相同的频率且与所述调制信号同步的参照信号；信号处理部，将利用所述调制信号进行强度调制的激光照射在测量对象物上，由此对所述受光部输出的荧光信号与所述参照信号进行第一混合处理，且相对于通过所述第一混合处理得到的混合信号，进行第一低通滤波处理以除去具有所述调制信号频率和所述参照信号频率的合计频率的信号，由此输出荧光信号基准的低频信号；荧光检测部，利用所述荧光信号基准的低频信号，计算出相对于所述调制信号的所述荧光信号的相位，并由算出的所述相位求出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间。