[发明专利]电感元件的直流叠加特性的分析方法及电磁场模拟装置有效

专利信息
申请号: 200980135965.9 申请日: 2009-09-30
公开(公告)号: CN102150165A 公开(公告)日: 2011-08-10
发明(设计)人: 橘武司;田中智;菊地庆子 申请(专利权)人: 日立金属株式会社
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张宝荣
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种使用了磁场分析模拟装置的电感元件的直流叠加特性的分析方法,其分析方法具有:第一工序,对于由与电感元件相同的磁性材料构成的环形铁心,求取从初磁化状态到饱和磁化为止的初磁化曲线及动作点不同的多个子环路,且从各动作点的增量导磁率获得表示磁通密度或磁场强度与增量导磁率的关系的点列数据;第二工序,对于通过电感元件网状分割而成的分析模型的各要素,利用磁场分析模拟装置基于环形铁心的初磁化曲线求取与规定的直流施加电流所对应的动作点,且基于动作点从所述点列数据分配增量导磁率,对由各要素的增量导磁率所获得的电感值进行积分求取电感元件整体的电感值;第三工序,通过以不同的直流施加电流重复第二工序,由此获得直流叠加特性。
搜索关键词: 电感 元件 直流 叠加 特性 分析 方法 电磁场 模拟 装置
【主权项】:
一种使用了磁场分析模拟装置的电感元件的直流叠加特性的分析方法,其特征在于,具有:第一工序,对于由与电感元件相同的磁性材料构成的环形铁心,求取从初磁化状态到饱和磁化的初磁化曲线,且求取所述初磁化曲线上的动作点不同的多个子环路,并且从各动作点及其对应的所述子环路的斜度所定义的增量导磁率,获得表示磁通密度或磁场强度和增量导磁率的关系的点列数据;第二工序,对于通过所述电感元件网状分割而成的分析模型的各要素,利用磁场分析模拟装置基于所述环形铁心的初磁化曲线求取与规定的直流施加电流所对应的动作点,且基于所述动作点从所述点列数据分配增量导磁率,对由各要素的增量导磁率所获得的电感值进行积分求取所述电感元件整体的电感值;第三工序,通过以不同的直流施加电流重复所述第二工序,由此获得直流叠加特性。
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