[发明专利]用于粒子法的界面粒子的判定方法及装置和界面粒子的判定用程序无效

专利信息
申请号: 200980136377.7 申请日: 2009-09-08
公开(公告)号: CN102160057A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 后藤仁志;阿巴斯·海耶尔 申请(专利权)人: 国立大学法人京都大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李伟;王轶
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的用于粒子法的界面粒子的判定方法包括:密度取得步骤,取得以判定对象的粒子为基准的规定范围的密度;第一判别步骤,将上述密度与规定的阈值进行比较;第二判别步骤,判别以上述判定对象的粒子为基准的规定范围内的其他粒子的配置的对称性;以及判定步骤,在由上述第一判别步骤中判别出上述密度小于规定的阈值、并且由上述第二判别步骤中判别出上述其他粒子的配置为非对称的情况下,将上述判定对象的粒子判定为界面粒子。
搜索关键词: 用于 粒子 界面 判定 方法 装置 程序
【主权项】:
一种用于粒子法的界面粒子的判定方法,用于在将分析对象表现为粒子的集合并且通过计算来分析该粒子的动作的粒子法中,判定位于上述分析对象的界面的粒子,其特征在于,包括:密度取得步骤,取得以判定对象的粒子为基准的规定范围的密度;第一判别步骤,将上述密度与规定的阈值进行比较;第二判别步骤,判别以上述判定对象的粒子为基准的规定范围内的其他粒子的配置的对称性;以及判定步骤,在由上述第一判别步骤判别出上述密度小于规定的阈值、并且由上述第二判别步骤判别出上述其他粒子的配置为非对称的情况下,将上述判定对象的粒子判定为界面粒子。
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