[发明专利]用结构入射光测定混浊介质光学特征的方法与系统有效
| 申请号： | 200980137411.2 | 申请日： | 2009-10-01 |
| 公开（公告）号： | CN102144154A | 公开（公告）日： | 2011-08-03 |
| 发明（设计）人： | 胡新华;陈成 | 申请（专利权）人： | 东卡莱罗纳大学 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01B11/02;G01N21/41;G01N21/47;G01N33/483 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 杜文茹 |
| 地址： | 美国北卡*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供可测定一个混浊介质样品光学特征的方法与系统。一个具有分布结构的光束用于照射样品。样品含一包埋区域。测量一幅样品所产生的具有分布结构反射光图像。一幅样品的具有分布结构的反射率图像可根据反射光图像与一个漫反射率标准板确定。反射率图像可用于确定下列样品参数：吸收系数μa，散射系数μs和各向异性参数g。样品内包埋区域的一个形状参数可根据测量的反射率图像及其吸收系数μa，散射系数μs和/或各向异性参数g估算。 | ||
| 搜索关键词： | 结构 入射 测定 混浊 介质 光学 特征 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种测定一个混浊样品光学特性的方法，其特征在于，其中包括：使用一束具有分布结构的光束照射样品，所述的样品含一包埋区域；探测一幅由具有分布结构的光束形成的样品反射光图像；根据反射光图像和一个反射标准板确定一幅由具有分布结构的光束形成的测量的样品反射率图像；根据反射率图像测定样品的一个吸收系数μa，一个散射系数μs和/或一个各向异性参数g；还有根据吸收系数μa，散射系数μs和/或各向异性参数g自测量的反射率图像估算包埋区域的一个形状参数。
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