[发明专利]用于测试部分地组装的多管芯器件的方法、集成电路管芯和多管芯器件无效
| 申请号： | 200980137950.6 | 申请日： | 2009-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102165328A | 公开（公告）日： | 2011-08-24 |
| 发明（设计）人： | 弗兰西斯库斯·杰拉德斯·玛丽亚·德·琼;亚历山大·塞巴斯蒂安·比文格 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种对部分地组装的多管芯器件(1)进行测试的方法，包括：提供包括器件级测试数据输入(12)和器件级测试数据输出(18)在内的载体(300)；将第一管芯置于所述载体上，所述第一管芯(100c)的测试访问端口包括主测试数据输入(142)、辅测试数据输入(144)和测试数据输出(152)，所述测试访问端口由测试访问端口控制器(110)来控制；以通信方式将所述第一管芯的辅测试数据输入(144)与器件级测试数据输入(12)耦合，并将所述第一管芯的测试数据输出(152)与器件级测试数据输出(18)耦合；向所述第一管芯提供配置信息，以使所述第一管芯处于所述第一管芯接受来自其辅测试数据输入(144)的测试指令的状态；对所述第一管芯进行测试，所述测试包括通过所述器件级测试数据输入(12)向所述第一管芯的辅测试数据输入(144)提供测试指令；以及在器件级测试数据输出(18)上，收集所述第一管芯的测试结果。从而，可以使用集成的边界扫描测试架构来对诸如系统级封装之类的部分地组装的多管芯器件的管芯进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 部分 组装 管芯 器件 方法 集成电路 | ||
【主权项】：
一种对部分地组装的多管芯器件(1)进行测试的方法，所述器件包括：‑载体(300)，包括器件级测试数据输入(12)和器件级测试数据输出(18)；‑所述载体上的第一管芯，所述第一管芯(100c)具有测试访问端口，所述测试访问端口包括主测试数据输入(142)、辅测试数据输入(144)和测试数据输出(152)，所述测试访问端口由测试访问端口控制器(110)来控制；其中，所述第一管芯(100c)的辅测试数据输入(144)以通信方式与器件级测试数据输入(12)耦合，所述第一管芯(100c)的测试数据输出(152)以通信方式与器件级测试数据输出(18)耦合；所述方法包括以下步骤：‑使所述第一管芯(100c)处于所述第一管芯(100c)接受来自所述第一管芯(100c)的辅测试数据输入(144)的测试指令的状态；‑将测试数据提供给所述第一管芯(100c)，包括通过所述器件级测试数据输入(12)向所述第一管芯(100c)的辅测试数据输入(144)提供测试指令；以及‑在器件级测试数据输出(18)上，从所述第一管芯(100c)收集测试结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于NXP股份有限公司，未经NXP股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980137950.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
