[发明专利]用于制造电容式测量装置的方法有效
| 申请号： | 200980138498.5 | 申请日： | 2009-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN102165289A | 公开（公告）日： | 2011-08-24 |
| 发明（设计）人： | 福尔克尔·德赖尔;阿尔明·韦内特 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司 |
| 主分类号： | G01F23/26 | 分类号： | G01F23/26;G01F25/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 邹璐;樊卫民 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于制造测量装置(1)的方法，该测量装置用于电容式地确定和/或监测介质(10)的料位，其中，测量装置(1)具有探头单元(2)和电子单元(3)，其中，电子单元(3)在测量时向探头单元(2)施加激励信号并接收来自探头单元(2)的接收信号，电子单元(3)从该接收信号中测定电容值。本发明包括：利用绝缘层(6)来给探头单元(2)涂层，将经涂层的探头单元(2)与电子单元(3)连接并安置到带有标定介质的容器(11)中，经涂层的探头单元(2)完全由标定介质覆盖并获取所属的接收信号，以及利用所属的接收信号来调整电子单元(3)的可调部件。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 制造 电容 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
用于制造测量装置(1)的方法，所述测量装置(1)用于电容式地确定和/或监测介质(10)的至少料位，其中，所述测量装置(1)具有至少一个探头单元(2)，其中，测量装置(1)具有至少一个电子单元(3)，其中，在测量时电子单元(3)向所述探头单元(2)施加激励信号并接收来自所述探头单元(2)的接收信号，并且其中，所述电子单元(3)从所述接收信号中测定至少一个能够与所述介质(1)的料位相对应的电容值，其特征在于，为所述探头单元(2)涂覆绝缘层(6)，将经涂层的所述探头单元(2)与所述电子单元(3)连接，将经涂层的所述探头单元(2)安置到带有标定介质的容器(11)中，经涂层的所述探头单元(2)基本上完全由所述标定介质覆盖，在基本上完全覆盖的情况下获取所属的接收信号，以及利用所述所属的接收信号来调整所述电子单元(3)的至少一个可调部件。
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