[发明专利]用于对具有高能量贡献的核素进行量化的实用 SPECT 校准方法无效

专利信息
申请号: 200980139578.2 申请日: 2009-10-05
公开(公告)号: CN102177444A 公开(公告)日: 2011-09-07
发明(设计)人: H·博特韦克 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01T1/164 分类号: G01T1/164;G01T1/29;G01T7/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 当对诸如SPECT相机的核相机进行校准时,针对所有可能的光子能量和相机可能经历的探测距离对点扩展函数(PSF)进行模拟。在制造商处的校准期间,由核相机对点源(14)成像,并测量其PSF。将所测量的PSF与一个或多个模拟的PSF进行比较,并确定两者之差。为了校准所测量的PSF,将模拟的PSF数据插值到所测量的PSF中以使所测量的PSF与模拟的PSF之差最小。将经校准的PSF存储到存储器中,并且其在用户处校准期间可以被使用。然后,用户在常规的相机校准期间对示踪剂样本成像,将针对示踪剂的PSF与经校准的PSF进行比较,以确定示踪剂样本的污染水平。然后,对示踪剂样本PSF进行校准以用于重建核图像。
搜索关键词: 用于 具有 高能量 贡献 核素 进行 量化 实用 spect 校准 方法
【主权项】:
一种核相机校准系统(10),包括:核相机(12),其对放射性药物点源(14)成像;以及处理器(16),其:将从点源图像测量的点扩展函数(PSF)(20)与模拟的点扩展函数(22)进行比较,以确定两者之间的差值;通过使用所述模拟的点扩展函数(22)对所述测量的点扩展函数(20)的点扩展函数数据进行插值以减小所述差值而生成点扩展函数校正曲线(30);校准所述测量的点扩展函数(20),以生成经校准的点扩展函数(32);以及将所述经校准的点扩展函数(32)存储到存储器(18)。
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