[发明专利]校准波长调制光谱设备的方法

摘要

公开校准配置成测量样本气体中的分析物的浓度的波长调制光谱设备的若干方法。每种方法允许使用比较安全的气体的校准和重新校准，而不管能够确定其分析物的浓度的样本气体是不是危险气体。在本发明的一个实施例中，样本气体特定的校准通过下列步骤来实现：确定样本气体的第一斜率系数和校准函数，此后比例因数能够根据第一斜率系数和相同或不同的样本气体的第二斜率系数来确定，并且用于后续校准(或者重新校准)，以便缩放校准函数。在本发明的其它实施例中，实现不是样本气体特定的校准，以便允许确定可变气体成分和恒定气体成分中的分析物浓度。

主权项

一种校准配置成测量样本气体中分析物的浓度的波长调制光谱设备的方法，所述方法包括下列步骤：确定与第一样本气体的参考压力和所述第一样本气体的参考温度对应的第一斜率系数，并且确定反映来自噪声最低限度的贡献的截距系数，所述确定基于在所述第一样本气体的所述参考压力和所述参考温度下所述分析物的已知浓度的第一多个谐波谱；确定反映谱线强度的温度相关常数的多个值，并且确定在所述第一样本气体的温度的多个值处有效压力加宽系数的多个值，所述确定基于所述截距系数以及在所述第一样本气体的温度的所述多个值处所述分析物的一个或多个已知浓度的第二多个谐波谱；确定所述第一样本气体的所述有效压力加宽系数的温度相关指数，以及确定所述第一样本气体的校准函数的多个值，所述确定基于根据所述温度相关指数计算的所述温度相关常数的所述多个值和多个有效压力加宽系数值。