[发明专利]分光测定方法

摘要

本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、对来自试料(S)的被测定光进行分光从而取得波长光谱的分光分析装置(30)以及数据解析装置(50)从而构成分光测定装置(1A)。解析装置(50)具有在波长光谱中设定对应于激励光的第1对象区域以及对应于来自试料(S)的发光的第2对象区域的对象区域设定部、以及求得试料(S)的发光量子收率的试料信息解析部，根据参照测定以及样品测定的结果求得发光量子收率的测定值φ0，并且使用与参照测定中的杂散光相关的系数β、γ，并由φ＝βφ0+γ求得降低了杂散光的影响的发光量子收率的解析值φ。由此，实现了可以降低在分光器内所发生的杂散光的影响的分光测定装置、测定方法以及测定程序。

主权项

一种分光测定方法，其特征在于，是使用分光测定装置，对由分光单元取得的波长光谱进行数据解析的分光测定方法，所述分光测定装置具备：积分球，在内部配置测定对象的试料，并具有用于入射被照射于所述试料的激励光的入射开口部以及用于出射来自所述试料的被测定光的出射开口部；以及所述分光单元，对从所述积分球的所述出射开口部出射的所述被测定光进行分光并取得其所述波长光谱，所述分光测定方法具备：对象区域设定步骤，在所述波长光谱的测定全波长区域中设定对应于所述激励光的第1对象区域以及作为对应于来自所述试料的发光并与所述第1对象区域不同的波长区域的第2对象区域；以及试料信息解析步骤，通过解析在包含所述第1对象区域以及所述第2对象区域的波长区域中的所述波长光谱，从而求得所述试料的发光量子收率，所述试料信息解析步骤将在所述积分球的内部没有所述试料的状态下供给所述激励光并进行测定的参照测定中所取得的所述第1对象区域中的测定强度作为IR1、将所述第2对象区域中的测定强度作为IR2、将所述测定全波长区域中的测定强度作为IR0，将在所述积分球的内部具有所述试料的状态下供给所述激励光并进行测定的样品测定中所取得的所述第1对象区域中的测定强度作为IS1、将所述第2对象区域中的测定强度作为IS2、将所述测定全波长区域中的测定强度作为IS0，此时，由φ0＝(IS2‑IR2)/(IR1‑IS1)求得发光量子收率的测定值φ0，并且将与所述参照测定中的杂散光相关的系数β、γ定义为β＝IR1/IR0γ＝IR2/IR0，并由φ＝βφ0+γ求得发光量子收率的解析值φ。