[发明专利]纳米线辐射热测量计光电检测器无效
| 申请号： | 200980141523.5 | 申请日： | 2009-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN102187237A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | A.M.布拉特科夫斯基;V.V.奥西波夫 | 申请（专利权）人： | 惠普开发有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李娜;王洪斌 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于检测辐射的电磁能量的光电检测器，包括至少部分地设置在光子阱（205，305，405，605）中的至少一个辐射热测量计纳米线（100）。所述至少一个纳米线（100）具有至少一个黑化表面（110）。所述黑化表面配置为吸收从远红外光到可见光的范围内的辐射电磁能量。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 辐射热 测量计 光电 检测器 | ||
【主权项】：
一种包括至少一个辐射热测量计纳米线（100）的光电检测器（200，300，400，500，600，700），所述至少一个辐射热测量计纳米线（100）至少部分地设置在光子阱（205，305，405，605）内，其中，所述纳米线（100）包括配置为吸收从远红外到可见光的黑化表面（110）。
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