[发明专利]用于分析材料的方法和设备有效
| 申请号： | 200980141603.0 | 申请日： | 2009-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN102187206A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | 安德烈·加布里埃尔·皮得考克;罗宾·格林伍德-史密斯;特雷弗·霍伊尔 | 申请（专利权）人： | 技术资源有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;G01N23/06 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 关兆辉;谢丽娜 |
| 地址： | 澳大利亚*** | 国省代码： | 澳大利亚;AU |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于分析包含组分的材料的颗粒的方法。该方法包括下列步骤：将材料颗粒暴露于具有一定范围内的x-辐射能量的x辐射，检测透射穿过所述颗粒的两个不同能级的x-辐射强度，以及根据检测出的强度确定组分的浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 材料 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于分析包含组分的材料的颗粒的方法，所述方法包含下列步骤：(a)将材料的颗粒暴露于具有一定范围内的x‑辐射能量的x‑辐射下；(b)检测透射穿过颗粒的两个不同能级或两个不同能量范围的x‑辐射强度；和(c)根据相应检测出的强度确定颗粒中存在的组分的浓度。
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