[发明专利]分子成像有效
| 申请号： | 200980141813.X | 申请日： | 2009-10-06 |
| 公开（公告）号： | CN102196773A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | R·卡尔米;G·S·卡夫里 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61K49/04;A61K49/06;A61K51/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种成像系统，包括：辐射源(110)，其发射贯穿检查区域的辐射；以及探测器(116)，其探测贯穿检查区域和置于其中的受试者的辐射，并且，产生指示所探测的辐射的能量的信号。数据选择器(122)，其基于与施予受试者的造影剂的第一和第二谱特性对应的能量谱设置而能量鉴别信号，其中，造影剂当附着于靶标时具有第一衰减谱特性，而当未附着于靶标时具有第二不同的谱特性。重建器(134)基于第一和第二谱特性而重建信号，并且，生成指示靶标的体积图像数据。 | ||
| 搜索关键词： | 分子 成像 | ||
【主权项】：
一种成像系统，包括：辐射源(110)，其发射贯穿检查区域的辐射；探测器(116)，其探测贯穿所述检查区域和置于其中的受试者的辐射，并且，产生指示所探测的辐射的能量的信号；数据选择器(122)，其基于与施予至所述受试者的造影剂的第一和第二谱特性对应的能量谱设置而能量鉴别所述信号，其中，所述造影剂当附着于靶标时具有第一衰减谱特性，而当未附着于所述靶标时具有第二不同的谱特性；以及重建器(134)，其基于所述第一和第二谱特性而重建所述信号，并且，生成指示所述靶标的体积图像数据。
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