[发明专利]薄膜开关、检测机构及读卡机有效
| 申请号： | 200980142626.3 | 申请日： | 2009-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN102197451A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 田多井俊男;高桥一德 | 申请（专利权）人： | 日本电产三协株式会社 |
| 主分类号： | H01H13/702 | 分类号： | H01H13/702;G06K17/00;H01H13/18 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 马洪 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种薄膜开关，适于用于对从装置从主装置的卸下进行检测的检测机构。具体而言，薄膜开关(11)包括：由具有导电性的金属形成为拱顶形的触点电极(15)；与触点电极(15)对向配置的对向电极(21)；以及在对向电极(21)的与触点电极(15)对向的对向侧的相反一侧隔着绝缘性构件(18)、(25)配置的金属制的金属薄膜(20)。当接触电极(15)与对向电极(21)接触时，该薄膜开关(11)处于导通状态。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜开关 检测 机构 读卡机 | ||
【主权项】：
一种薄膜开关，其特征在于，包括：触点电极，该触点电极由具有导电性的金属形成为拱顶形；对向电极，该对向电极与所述触点电极对向配置；以及金属薄膜，该金属薄膜是金属制的，隔着绝缘性构件配置于所述对向电极的与所述触点电极对向的对向侧的相反一侧，所述触点电极与所述对向电极接触而导通。
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