[发明专利]化合物半导体制造装置、化合物半导体制造方法以及化合物半导体制造用型架有效
申请号: | 200980143008.0 | 申请日: | 2009-11-04 |
公开(公告)号: | CN102197460A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 樱井哲朗 | 申请(专利权)人: | 昭和电工株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C23C16/44 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 段承恩;杨光军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在化合物半导体基板(40)上形成采用有机金属气相生长法在化合物半导体基板(40)上依次层叠III族氮化物半导体的晶体层而成的化合物半导体层时,在反应容器内安装化合物半导体基板(40)使其晶体生长面朝上,在化合物半导体基板(40)的上方,在与晶体生长面对向的侧安装形成有放射状的多个沟(63)的保护构件(60),经由在保护构件(60)的中央部设置的第1贯通孔(61)对反应容器的内部进行原料气体的供给。由此,在使用了有机金属气相生长法的化合物半导体的制造中,抑制了由剥落的反应生成物附着于基板或者基板上的外延生长膜上所引起的成品率的降低。 | ||
搜索关键词: | 化合物 半导体 制造 装置 方法 以及 用型架 | ||
【主权项】:
一种化合物半导体制造装置,是采用有机金属气相生长法形成化合物半导体层的化合物半导体制造装置,其特征在于,具有:反应容器;从外部向所述反应容器内供给所述化合物半导体的原料气体的原料供给口;配置于所述反应容器内,以被形成体的被形成面朝向上方的方式支持该被形成体的支持体;和配置于被所述支持体支持的所述被形成体的上方,并在与所述被形成面对向的对向面形成有凹凸的对向构件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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