[发明专利]使用解码器性能反馈的用于存储器器件的软数据生成的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200980143075.2 申请日: 2009-09-30
公开(公告)号: CN102203877A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: E·F·哈拉特什;M·伊威科维克;V·克拉琦科夫斯基;N·米拉德诺维奇;A·维缇亚埃夫;C·威廉姆森;J·延 申请(专利权)人: LSI公司
主分类号: G11C16/34 分类号: G11C16/34;G11C16/26;G11C7/10;G11C11/56
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 金晓
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 使用解码器性能反馈为存储器器件生成软数据的方法和装置。在存储器器件中通过如下步骤产生至少一个软数据值:从解码器获得性能反馈;基于所述性能反馈获得读取统计数据;以及基于所获得的读取统计数据产生所述至少一个软数据值。所述性能反馈包括解码的位、基于由所述解码器解码的数据的错误位的数目以及未满足的奇偶校验的数目中的一个或更多个。
搜索关键词: 使用 解码器 性能 反馈 用于 存储器 器件 数据 生成 方法 装置
【主权项】:
一种用于在存储器器件中产生至少一个软数据值的方法,包括:从解码器获得性能反馈;基于所述性能反馈获得读取统计数据;以及基于所获得的读取统计数据产生所述至少一个软数据值。
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