[发明专利]用于存储器器件的软数据生成的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200980143076.7 申请日: 2009-09-30
公开(公告)号: CN102203876A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: E·F·哈拉特什;M·伊威科维克;V·克拉琦科夫斯基;N·米拉德诺维奇;A·维缇亚埃夫;C·威廉姆森;J·延 申请(专利权)人: LSI公司
主分类号: G11C16/26 分类号: G11C16/26;G11C16/34;G11C7/10;G11C11/56
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 金晓
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提供了用于存储器器件的软数据生成的方法和装置。通过获得至少一个硬读取值;并且基于关于读取硬读取值的统计数据数据生成与至少一个硬读取值关联的软数据值,生成了关于存储器器件的至少一个软数据值。硬读取值可以是数据位、电压电平、电流水平和电阻水平中的一个或更多个。所生成的软数据值可以是如下中的一个或更多个:(i)用于生成一个或更多个对数似然比的软读取值;或者(ii)一个或更多个对数似然比。统计数据数据包括基于位的统计数据数据和基于单元的统计数据数据中的一个或更多个。统计数据数据还可以包括至少一个侵略者单元对目标单元的取决于模式的干扰以及位置特定的统计数据数据。通过获得软读取值;并且基于关于读取软读取值的统计数据数据生成与软读取值关联的软数据值,生成了关于存储器器件的至少一个软数据值,其中统计数据数据包括位置特定的统计数据数据和取决于模式的统计数据数据中的一个或更多个。
搜索关键词: 用于 存储器 器件 数据 生成 方法 装置
【主权项】:
一种用于生成关于存储器器件的至少一个软数据值的方法,所述方法包括:获得至少一个硬读取值;以及基于关于读取所述硬读取值的统计数据数据生成与所述至少一个硬读取值关联的所述软数据值。
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