[发明专利]检测元件、检测装置及氧浓度测试装置有效
| 申请号： | 200980143715.X | 申请日： | 2009-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN102197299A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·大卫·阿米蒂奇 | 申请（专利权）人： | 松下电工株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01N21/66 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 杨暄 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种检测元件，该检测元件通过受激励光激励而产生与周围气氛相对应的光，以检测所述周围气氛中的预先指定的气体或液体的参数，包括基板以及形成在所述基板上、采用具有异质结构的阱层的化合物半导体发光元件的纳米级的结晶结构体，通过所述预先指定的气体或液体的分子或原子吸附在所述纳米级的结晶结构体，使在所述阱层中带隙宽度较小的结构体发生能带的畸变，该畸变使跃迁能产生变化，利用因该变化而在所述阱层产生的光的强度和波长的至少其中之一的变化来表示所述气体或液体的参数。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 元件 装置 浓度 测试 | ||
【主权项】：
一种检测元件，其特征在于，受激励光激励而产生与周围气氛相对应的光，以检测所述周围气氛中的预先指定的气体或液体的参数，所述检测元件包括：基板；以及纳米级的结晶结构体，形成在所述基板上，采用具有异质结构的阱层的化合物半导体发光元件，其中，当所述预先指定的气体或液体的分子或原子吸附在所述纳米级的结晶结构体时，该纳米级的结晶结构体在所述阱层中带隙宽度较小的结构体发生能带的畸变，该畸变使跃迁能产生变化，利用因该变化而在所述阱层产生的光的强度和波长的至少其中之一的变化来表示所述气体或液体的参数。
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