[发明专利]带状粒子束用的质量分析磁铁有效

专利信息
申请号: 200980143988.4 申请日: 2009-11-12
公开(公告)号: CN102203914A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 维克多·M·本夫尼斯特;詹姆士·S·贝福;法兰克·辛克莱;约瑟·C·欧尔森 申请(专利权)人: 瓦里安半导体设备公司
主分类号: H01L21/265 分类号: H01L21/265
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 美国麻萨诸塞*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种带状离子束质量分析器,具有第一螺线管线圈、第二螺线管线圈以及钢质磁轭配置。每个螺线管线圈具有大致的“轨道”组态,界定了一个可供带状离子束从中穿行的空间。这两个螺线管线圈沿着带状离子束的穿行方向而分开。每个螺线管线圈产生均匀的磁场,供较宽的带状离子束进行质量解析,以产生想要的离子图像,其中离子是由离子源产生的。
搜索关键词: 带状 粒子束 质量 分析 磁铁
【主权项】:
一种离子质量分析器,用来对穿行的带状离子束中的不同离子物种进行质量分析,且产生其图像,所述离子质量分析器包括:第一螺线管线圈,界定一个可供带状离子束从中穿过的空间,所述第一螺线管线圈配置成对应所施加的电流以在第一方向产生第一磁场,从而根据穿越所述第一螺线管线圈的所述空间的所述带状离子束中的每个离子的各别质量来改变与所述离子有关的轨迹;第二螺线管线圈,在所述第一螺线管线圈沿着所述穿行带状离子束的方向下游,且与所述第一螺线管线圈相隔一段距离“d”,所述第二螺线管线圈界定一个可供从所述第一螺线管线圈接收的所述带状离子束从中穿行的空间,所述第二螺线管线圈配置成对应所施加的电流以产生第二磁场,使得所述第二磁场与所述第一磁场方向相反,所述第二螺线管线圈经配置以根据来自所述第一螺线管线圈的所述带状离子束内的每个被接收的离子的各别质量来使所述离子的轨迹进一步弯曲;以及至少一个磁轭,所述磁轭具有第一凹槽与第二凹槽,所述第一凹槽经配置以收容所述第一螺线管线圈的一部分,且所述第二凹槽经配置以收容所述第二螺线管线圈的一部分,所述磁轭连接至所述第一螺线管线圈与所述第二螺线管线圈,以在所述磁轭、所述第一螺线管线圈以及所述第二螺线管线圈之间形成电路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瓦里安半导体设备公司,未经瓦里安半导体设备公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200980143988.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top