[发明专利]自动分析装置及用于该自动分析装置的样本分配方法无效

专利信息
申请号: 200980149041.4 申请日: 2009-03-19
公开(公告)号: CN102265166A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 水谷贵行;窪田磨誉 申请(专利权)人: 贝克曼考尔特公司
主分类号: G01N35/10 分类号: G01N35/10
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 梅高强
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提供了一种能够避免样本间携带污染的自动分析装置和样本分配方法。为此,用于执行具有高携带污染避免等级的测定项目单具有低携带污染避免等级的测定项目单两者的分析的自动分析装置(1),包括:安装有一次性端头(60a)的第一样本分配装置(6),用于具有高携带污染避免等级的测定项目单的样本分配和用于具有低携带污染避免等级的测定项目单的样本的再分和分配;等分容器(9),其用于再分和容纳通过第一样本分配装置(6)被再分和分配的用于具有低携带污染避免等级的测定项目单的样本;和安装有可重复使用的探针(50)的第二样本分配装置(5),其用于为具有低携带污染避免等级的测定项目单的样本分配。
搜索关键词: 自动 分析 装置 用于 样本 分配 方法
【主权项】:
一种用于执行具有高携带污染避免等级的测定项目单的分析和具有低携带污染等级的测定项目单的分析两者的自动分析装置,其特征在于,所述自动分析装置包括:第一样本分配部件,通过在其上安装一次性端头,用于为高携带污染避免等级的测定项目单执行样本的分配,并且为具有低携带污染等级的测定项目单执行样本的再分和分配;壳体部件,用于再分和容纳用于具有低携带污染等级的测定项目单的样本,所述样本通过所述第一样本分配部件被再分和分配;和第二样本分配部件,通过在其上安装可重复使用的探针,用于为具有低携带污染等级的测定项目单执行样本的分配,其中,所述第二样本分配部件从所述壳体部件分配样本。
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