[发明专利]机械运动轨迹测定装置、数控机床及机械运动轨迹测定方法有效

专利信息
申请号: 200980149230.1 申请日: 2009-09-10
公开(公告)号: CN102245349A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: 左藤隆太;长冈弘太朗;佐藤智典 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: B23Q17/00 分类号: B23Q17/00;G01B21/00;G05B19/18
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 刘日华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种机械运动轨迹测定装置、数控机床及机械运动轨迹测定方法,所述机械运动轨迹测定装置对如下的装置中的机械的运动轨迹进行测定,该装置通过以反馈检测位置并使检测位置追随指令位置的方式驱动多个可动轴的马达(1),对机械的位置进行控制,所述检测位置通过将马达旋转角度进行位置变换而获得,其中,该机械运动轨迹测定装置备有加速度计(13)和运动轨迹测定部(14),上述加速度计(13)用来测定机械的加速度;上述运动轨迹测定部(14),对加速度进行2阶积分以获得机械位置,并且以使机械位置的轮廓与利用模拟机械的位置相对于指令位置的响应性的模型所推定的推定位置的轮廓或检测位置的轮廓一致的方式修正机械位置,从而测定机械的运动轨迹。
搜索关键词: 机械运动 轨迹 测定 装置 数控机床 方法
【主权项】:
一种机械运动轨迹测定装置,其特征在于,该机械运动轨迹测定装置对如下的装置中的机械的运动轨迹进行测定,该装置通过以反馈检测位置并使上述检测位置追随指令位置的方式驱动马达,对上述机械的位置进行控制,所述检测位置从用于驱动多个可动轴的多个马达检测出,其中,该机械运动轨迹测定装置备有加速度计和运动轨迹测定部,上述加速度计用来测定上述机械的加速度;上述运动轨迹测定部,对上述加速度进行2阶积分以获得机械位置,并且以使上述机械位置的轮廓与利用模拟上述机械的位置相对于上述指令位置的响应性的模型所推定的推定位置的轮廓或上述检测位置的轮廓大致一致的方式修正上述机械位置,从而测定上述机械的运动轨迹。
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