[发明专利]次临界反应性测量方法有效

专利信息
申请号: 200980149463.1 申请日: 2009-10-05
公开(公告)号: CN102246242A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: P·J·塞巴斯蒂亚尼 申请(专利权)人: 西屋电气有限责任公司
主分类号: G21C17/04 分类号: G21C17/04;G21C19/40;G01T3/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李渤
地址: 美国宾夕*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种确定反应堆临界态所使用的空间校正的反计数率(SCICR)的确定方法,其从源区段探测器输出中减去背景噪声信号。该方法在源区段中,随着反应堆功率输出增加,监测探测器输出的瞬变部分期间两个不同堆芯温度水平下的源区段探测器信号。该信息被用来分析确定背景噪声信号,然后从探测器输出中减去该背景噪声信号,以获得SCICR反应性测量值。
搜索关键词: 临界 反应 测量方法
【主权项】:
一种确定核反应堆的临界态接近度的方法,所述核反应堆具有位于核反应堆容器的堆芯区中的控制棒构造以及穿过堆芯循环的冷却慢化剂,所述方法包括以下步骤:监测探测器信号的瞬变部分期间的第一源区段探测器信号CMC,以获得冷却慢化剂处于与第一温度对应的密度时堆芯的中子辐射水平;将堆芯的温度升高至第二温度;监测探测器信号的瞬变部分期间的第二源区段探测器信号CMH,以获得冷却慢化剂处于与第二温度对应的密度时堆芯的中子辐射水平,监测的第一源区段探测器信号和监测的第二源区段探测器信号各具有背景非中子信号分量N;根据以下关系基于监测的第一和第二源区段探测器信号确定背景非中子信号分量: N = { K eff H - K eff C 1 - K eff H + R ( T H ) R ( T C ) + F H F C - 1 } C MC - C MH { K eff H - K eff C 1 - K eff H + R ( T H ) R ( T C ) + F H F C - 1 } - 1 ; 从第二温度下获得的监测的中子辐射水平去除背景非中子信号分量,以获得背景调节的中子辐射水平;以及基于背景调节的中子辐射水平确定所述临界态接近度。
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