[发明专利]距离测定装置及距离测定方法有效

专利信息
申请号: 200980151525.2 申请日: 2009-12-18
公开(公告)号: CN102265178A 公开(公告)日: 2011-11-30
发明(设计)人: 大石政裕;德田义克 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01C3/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈萍
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明实现一种距离测定装置及方法,将距离测定装置内部的延迟电路的变动抵消,能够进行高精度且快速的测定。该距离测定装置及方法从进行脉冲发光的光源部(10)分支出第一基准光r1、第二基准光r2、测定发送光mt,通过对在大致不发生光学变化的第一参照光路R1中传播的第一基准光r1、在插入有光学延迟发生部(50)的第二参考光路中传播的第二基准光r2、将测定发送光照射到测定对象物(160)而反射回来的测定接收光mr之间的检测时间差进行测定,从而测定与测定对象物(160)之间的距离,其中,在测定接收光mr与第一基准光r1在时间上分离的情况下,根据两者的检测时间差计算距离,在测定接收光mr与第一基准光r1在时间上不分离的情况下,根据第一基准光r1与第二基准光r2之间的检测时间差Td、及测定接收光mr与第二基准光r2之间的检测时间插Td’,计算距离L。
搜索关键词: 距离 测定 装置 方法
【主权项】:
一种距离测定装置,具备:光源部,与触发信号同步进行脉冲发光;分光部,将来自所述光源部的光分支成第一基准光、第二基准光及测定发送光;第一参考光路,使所述第一基准光通过,而不发生光学距离变化;第二参考光路,包括相对于所述第一参考光路发生时间延迟的光学延迟发生部,使所述第二基准光通过;参考光路切换部,具有将所述第一及所述第二参考光路的任意一个设置为通过、将双方设置为通过、及将双方设置为遮蔽的功能;发送部,向测定对象物照射所述测定发送光;接收部,将所述照射的光在测定对象物上发生了反射的测定接收光接收;测定光量调整部,将所述测定发送光或所述测定接收光遮蔽;光合成部,将所述第一参考光路的输出光、所述第二参考光路的输出光、以及被所述接收部接收到的测定接收光合成;光电变换部,将由所述光合成部合成出的光信号变换为电信号;以及测定控制部,具有如下的功能,即,对所述参考光路切换部和所述测定光量调整部进行控制,根据由所述光电变换部得到的信号的检测时间来决定距离。
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