[发明专利]在利用散射辐射的条件下X射线成像的方法无效

专利信息
申请号: 200980153382.9 申请日: 2009-11-06
公开(公告)号: CN102271585A 公开(公告)日: 2011-12-07
发明(设计)人: 奥利弗.海德 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;G01N23/223
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及用于X射线成像的一种方法及一种装置。在该方法中,利用一个或多个按照时间上的间隔相继跟随的X射线脉冲对对象(8)进行透视。利用具有探测器元件的二维布置的X射线探测器(9)、在与透视方向不同的方向上时间和位置分辨地记录在对象的体积元素上散射的X射线。通过X射线脉冲的波前的已知的几何形状和传播,从位置和时间分辨的测量数据中重建对象(8)的三维散射分布的图像数据组。该方法使得可以利用仅一个X射线脉冲建立三维散射分布的图像数据组并且由此可以非常简单地进行。
搜索关键词: 利用 散射 辐射 条件下 射线 成像 方法
【主权项】:
一种用于X射线成像的方法,其中,利用从X射线源(1)发出的X射线束透视对象(8),其特征在于,‑利用一个或多个按照时间上的间隔相继跟随的X射线脉冲进行透视,‑利用具有探测器元件的二维布置的X射线探测器(9)、时间和位置分辨地记录在与透视方向不同的方向上在对象的体积元素上散射的X射线,并且‑通过X射线脉冲的波前的已知的形状和已知的时间上的传播,从X射线探测器(9)的位置和时间分辨的测量数据中重建对象(8)的三维散射分布的图像数据组。
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