[发明专利]用于测定辐照对颗粒磨损的影响的快速试验无效
| 申请号： | 200980154560.X | 申请日： | 2009-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN102282451A | 公开（公告）日： | 2011-12-14 |
| 发明（设计）人： | M·克鲁兹;R·福克斯;F·D·库恩 | 申请（专利权）人： | 赢创德固赛有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/56 | 分类号： | G01N3/56 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 宓霞 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明公开用于测定辐照对颗粒磨损的影响的快速试验，其中i)在辐照之前测定颗粒的磨损，ii)辐照所述颗粒，iii)测定受辐照颗粒的磨损，其特征在于如下测定磨损，a)在切割磨机中研磨颗粒，b)使经研磨的产物经历筛分分析和c)将筛分分析的结果与至少一个参考值相比较，以将颗粒的磨损分级，-如下辐照颗粒：将多个颗粒粒子布置在样品容器(2)中并用辐照灯(3)辐照它们，其中在该辐照期间将颗粒粒子定期混合以致颗粒粒子的不同表面受到辐照。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测定 辐照 颗粒 磨损 影响 快速 试验 | ||
【主权项】：
用于确定辐照对颗粒磨损的影响的快速试验，其中i.)在辐照之前测定颗粒的磨损，ii.)辐照所述颗粒，iii.)测定受辐照颗粒的磨损，其特征在于■如下测定磨损a)在切割磨机中研磨颗粒，b)使经研磨的产物经历筛分分析和c)将筛分分析的结果与至少一个参考值相比较，以将颗粒的磨损分级，■如下辐照所述颗粒：将多个颗粒粒子布置在样品容器(2)中并用辐照灯(3)辐照它们，其中在该辐照期间将颗粒粒子定期混合以致颗粒粒子的不同表面受到辐照。
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