[发明专利]光学断层图像摄像方法和光学断层图像摄像设备无效
申请号: | 200980155267.5 | 申请日: | 2009-12-18 |
公开(公告)号: | CN102333477A | 公开(公告)日: | 2012-01-25 |
发明(设计)人: | 汤浅堂司;杉田充朗 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | A61B3/12 | 分类号: | A61B3/12;G01B9/02;A61B5/00;G02B26/10 |
代理公司: | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人: | 魏启学 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 光学断层图像摄像方法用于拍摄被检体的断层图像,其包括:利用多个测量光的光斑在同一方向上扫描该被检体的预定区域,从而利用不同的光斑照射该被检体的不同位置;检测被该被检体反射或散射的多个返回光和由参考镜反射的相应的多个参考光所构成的干涉光;以及使用各个干涉信号之中的与至少两个光斑相对应的干涉信号,基于不同的光斑位置之间的偏移量对所检测到的干涉信号执行运算处理。要扫描的区域在与扫描方向垂直的方向上的长度小于这些光斑的直径的和。 | ||
搜索关键词: | 光学 断层 图像 摄像 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种光学断层图像摄像方法,用于通过将多个测量光引导至被检体、利用光合成单元将所述被检体所反射或散射的多个返回光与相应的多个参考光进行合成并且检测干涉光,来拍摄所述被检体的断层图像,所述光学断层图像摄像方法包括以下步骤:经由扫描光学系统利用所述多个测量光的光斑在同一方向上扫描所述被检体的预定区域,从而经由照射光学系统利用所述多个测量光的不同光斑照射所述被检体的不同位置,其中,所述预定区域在与扫描方向垂直的方向上的长度小于所述光斑的直径的和;检测由来自所述被检体的不同位置的所述多个返回光和相应的所述多个参考光所形成的干涉信号;以及使用与各个光斑位置相对应的干涉信号之中的与至少两个光斑位置相对应的干涉信号,基于不同的光斑位置之间的偏移量对所检测到的干涉信号执行运算处理,从而提高信噪比。
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