[发明专利]制造光学检测器件的方法无效
| 申请号： | 200980157883.4 | 申请日： | 2009-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN102893141A | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | E.M.迪法布里齐奥;M.L.科卢西奥;F.梅卡里尼;F.德安格利斯;G.达斯;P.坎德洛罗;G.库达 | 申请（专利权）人： | 卡尔梅德有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/55 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王岳;李家麟 |
| 地址： | 意大利*** | 国省代码： | 意大利;IT |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于制造光学检测器件的方法包括在基板（2）上产生多个金属纳米球的操作。该过程的特征在于其还包括以下操作：-在所述基板（2）上产生能够接纳所述金属纳米球的多个光刻纳米结构（4a、4b、4c），-以使得在每个光刻纳米结构（4a、4b、4c）中创建相应金属纳米球的方式执行至少一种金属的自聚集沉积。 | ||
| 搜索关键词： | 制造 光学 检测 器件 方法 | ||
【主权项】：
用于制造光学检测器件的方法，包括在基板（2）上产生多个金属纳米球的操作，该过程的特征在于其还包括以下操作：‑ 在所述基板（2）上产生能够接纳所述金属纳米球的多个光刻纳米结构（4a、4b、4c），‑ 以使得在每个光刻纳米结构（4a、4b、4c）中创建相应金属纳米球的方式执行至少一种金属的自聚集沉积。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于卡尔梅德有限公司，未经卡尔梅德有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980157883.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：定子绕组组件及方法
- 下一篇：防水防尘自散热电动汽车直流电压变换器
